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      電子稱重儀表輻射抗擾度測試的方法與對策

      發(fā)布時(shí)間:2020-09-25 09:38:21 |來源:網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載

      射頻輻射抗擾度(RS)測試是GB/T7724-2008(電子稱重儀表》[1〕中規(guī)定的電子稱重儀表取得計(jì)量型式批準(zhǔn)證書必須要過的測試項(xiàng)目。由于新國標(biāo)把抗干擾等級由原來的3V/m提高到10V/m,大大提高了儀表通過RS測試的難度。筆者以某型電子稱重儀表射頻輻射抗擾度測試為例,歸納總結(jié)出儀表設(shè)計(jì)的設(shè)計(jì)方法及注意事項(xiàng),供大家借鑒。

      1儀表結(jié)構(gòu)
      試驗(yàn)中使用的某型電子稱重儀表,整體采用鋁合金外殼,薄膜開關(guān)樣式。硬件部分電源采用開關(guān)電源,CPU選用ST公司32位ARM處理器STM32F103,ADC選用ADI公司24位模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片AD7190,顯示采用128x64點(diǎn)陣2.7''OLED顯示屏。10路隔離輸入和12路隔離輸出,標(biāo)配1個(gè)RS232和1個(gè)RS485接口。框圖如圖1所示。其中,CPU、顯示和ADC電源共用一個(gè)變壓器次級繞組,通訊電源用另一繞組,即通訊與其他電路隔離。
      2測試標(biāo)準(zhǔn)和方法
      根據(jù)GB/T7724-2008《電子稱重儀表》和GB/T23111-2008《非自動(dòng)衡器滬中規(guī)定電子稱重儀表RS測試標(biāo)準(zhǔn)如下:

      儀表硬件框圖


      圖1儀表硬件框圖
      Fig.1Hardwareblockdiagramofmeter

      頻率范圍:80~2000MHz

      場強(qiáng):10V/m

      調(diào)制:80%AM,lkHz,正弦波
      最大允許變化:在有干擾和無干擾情況下測試,示值變化不大于e或衡器應(yīng)檢測到顯著增差并對其作出反應(yīng)。
      試驗(yàn)在半波暗室中進(jìn)行,試驗(yàn)設(shè)備、設(shè)置、程序按照GB/T17626.3向規(guī)定執(zhí)行。其中特別需要關(guān)注布線問題,以免影響試驗(yàn)結(jié)果,必須遵守“從受試設(shè)備引出的連線暴露在電磁場中的距離為1m”的規(guī)定。測試中電子稱重儀表引出的連線有電源線、傳感器線、通訊線和10口輸入輸出線,這4組線必須暴露在電磁場中的距離為1m,如圖2所示。
      3RS測試整改與分析
      儀表設(shè)置:

      試驗(yàn)儀表位置示意圖

      圖2試驗(yàn)儀表位置示意圖
      Fig.2Locationdiagramoftestingmeter

      1)    10mV信號儀表標(biāo)定200000內(nèi)碼,每個(gè)e對應(yīng)20個(gè)內(nèi)碼;
      2)    信號源采用350Q電阻應(yīng)變式傳感器,傳感器信號線采用屏蔽線,屏蔽接保護(hù)地PE;
      3)    1M電阻R】和2200PF/2kV高壓瓷片電容C1并聯(lián)跨接在儀表保護(hù)地PE與儀表工作地GND之間;
      4)    儀表的引出線全部接上引出;
      5)    儀表關(guān)閉零點(diǎn)跟蹤等功能;
      6)    儀表外殼接保護(hù)地PE;
      7)    儀表在內(nèi)碼狀態(tài)下顯示;
      3.1初始結(jié)果
      按照上節(jié)的測試標(biāo)準(zhǔn)和方法進(jìn)行測試,這邊需要指出的是傳感器必須穩(wěn)定一段時(shí)間,以消除環(huán)境等因素的干擾〔4】,結(jié)果如表1、表2所示。
      RS測試水平輯射初始結(jié)果。

      儀表測試水平輯射初始結(jié)果表

      從表1、表2中可看出,電子稱重儀表受輻射干擾主要在低頻段(80-1000MHz),高頻段(1~2GHz)幾乎對儀表沒有影響。針對此款儀表主要集中在200MHz以下頻段,水平輻射儀表內(nèi)碼變化34,垂直輻射抗擾內(nèi)碼變化33,均超過1個(gè)e,20個(gè)內(nèi)碼變化,有3處敏感點(diǎn)。水平輻射和垂直輻射敏感點(diǎn)大致相同,試驗(yàn)以水平輻射整改為主,水平輻射合格后再驗(yàn)證垂直輻射。
      3.2整改
      整改1:一般來說,射頻干擾是通過導(dǎo)體傳導(dǎo)和空間輻射兩個(gè)途徑從干擾源傳遞到敏感設(shè)備的叩。切斷這兩條傳播途徑就可以解決射頻干擾問題。從儀表引出的各類接口線著手成為首選解決問題的途徑。
      分別撥掉儀表10口輸入輸出線和通訊線后進(jìn)行低頻水平輻射,結(jié)果如表3、表4所示。

      拔掉通IO線測試結(jié)果表

      從表3、表4中可看出,10口輸入輸出線對試驗(yàn)結(jié)果幾乎沒有影響,拔掉通訊線后在頻率點(diǎn)130MHz和180MHz處儀表示值明顯得到改善。從而可得出射頻干擾通過通訊線接收,傳入儀表內(nèi)部,引起內(nèi)碼變化。
      措施:分析通訊部分電路,發(fā)現(xiàn)通訊線沒有進(jìn)行濾波處理。在通訊線上增加三端濾波器件,注意地線上也要加三端濾波器件,這一點(diǎn)要特別注意。接上通訊線后再進(jìn)行低頻水平輻射,結(jié)果如表5所示。

      增加接口濾波測試結(jié)果表

      對比表1與表5,結(jié)果顯示對通訊接口進(jìn)行濾波處理后,儀表受到的干擾明顯減小。但在130MHz和180MHz初相對初值還是有不小的變化,分別為12個(gè)內(nèi)碼和7個(gè)內(nèi)碼,整個(gè)頻段有19個(gè)內(nèi)碼的變化,若考慮器件差異性等因素,極易超出20個(gè)內(nèi)碼。
      整改2:整改1中,通過在通訊接口線上增加三端濾波器件后,抗干擾效果明顯,但從表3和表5的結(jié)果中可看出,還是有一部分干擾通過通訊電路干擾到ADC電路。電路上,通訊信號線與CPU通過光耦隔離,通訊5V電源從變壓器次級繞組2再經(jīng)LDO穩(wěn)壓得到。從傳輸路徑來看干擾最有可能從通訊地通過變壓器次級繞組2耦合到次級繞組1,從而干擾到ADCo
      措施:在保護(hù)地PE和通訊地之間跨接1M電阻和2200pF/2kV高壓瓷片電容(電阻和電容并聯(lián)),使干擾快速泄放到保護(hù)地。
      整改后進(jìn)行低頻水平輻射,結(jié)果如表6所示。

      加RC測試結(jié)果表

      從表6可看出,對通訊地進(jìn)行特殊處理后,抗干擾效果明顯。
      整改3:從表1~表6可見,100MHz的敏感點(diǎn)一直存在,初步考慮干擾從傳感器信號線耦合進(jìn)來,干擾ADC,頻率在100MHz附近。在整改2的基礎(chǔ)上,在傳感器信號線,反饋線、電源線和地線上都加三端濾波器件濾波,進(jìn)行低頻水平輻射,結(jié)果如表7所示。

      傳感器接口加濾波后測試結(jié)果表

      從表7可看出,100MHz處效果改善明顯,在整個(gè)頻率段內(nèi)內(nèi)碼變化9,滿足儀表示值不大于1個(gè)e的要求。
      整改4:為進(jìn)一步提高輻射抗擾性能,在上述的基礎(chǔ)上,把ADC部分用金屬屏蔽罩屏蔽起來,再做輻射抗擾試驗(yàn),結(jié)果如表8所示。

      加ADC屏蔽測試結(jié)果表

      可見,對ADC進(jìn)行屏蔽處理,效果明顯。
      按照上述方法對儀表進(jìn)行整改處理,隨機(jī)抽取3臺做輻射抗擾度實(shí)驗(yàn),全部通過實(shí)驗(yàn),而內(nèi)碼變化最大不超過6個(gè)內(nèi)碼。
      3.3分析總結(jié)
      通過以上整改及RS測試結(jié)果,發(fā)現(xiàn)可從四方面著手提高儀表的輻射抗干擾能力,以順利通過RS測試:
      1)    外部接口:各種外部接口線都應(yīng)做濾波處理,如有可能盡量采用隔離方案,盡量減小從接口線耦合進(jìn)來的干擾。對于電子稱重儀表ADC部分,接口處必須釆用三端濾波器件,以提高濾波性能;通訊部分與CPU采用光耦或磁隔離,同時(shí)接口加濾波處理;10口輸入輸出線與CPU采用光耦隔離,10電路部分盡量采用外部電源,以最大程度消除RS造成的影響;進(jìn)行濾波處理時(shí)注意電源線和地線也要進(jìn)行濾波處理。
      2)    屏蔽:外殼和關(guān)鍵電路的屏蔽與接地。金屬外殼的電子稱重儀表,注意金屬連接件之間的縫隙,盡量不留縫隙,使外殼構(gòu)成一個(gè)整體,特別注意顯示窗口的屏蔽,同時(shí)外殼接保護(hù)地,使殼體對整個(gè)儀表內(nèi)部器件起到屏蔽作用;塑料外殼電子儀表在殼體內(nèi)表面噴涂金屬漆或電鍍金屬材料,同時(shí)接保護(hù)地;對ADC部分,采用金屬屏蔽罩以減小空間輻射對ADC的影響。
      3)    內(nèi)部電路:合理的電路設(shè)計(jì)有利于提高儀表的抗干擾能力。合理布局電源、CPU、ADC、IO及通訊電路,盡量采用隔離方案;PCB設(shè)計(jì)時(shí)對敏感信號包地線,以減小其環(huán)路面積,如成本允許,盡量采用4層板;按鍵接口處接上拉電阻,提高芯片的抗干擾能力,防止按鍵的誤響應(yīng);芯片不用引腳不要懸空,接地或電源;對于開關(guān)電源,注意共模電感、差模電感、XY電容的參數(shù)選取,變壓器最好采用帶屏蔽繞組的,初次級跨接高壓瓷片電容,注意開關(guān)電源的接地問題;各工作地和保護(hù)地PE之間的連接問題,確保每個(gè)地都有泄放途徑。
      4)    軟件:選擇合適的ADC數(shù)據(jù)濾波算法,有利于提高儀表的輻射抗擾能力。
      4結(jié)論
      介紹了電子稱重儀表RS測試的測試標(biāo)準(zhǔn)和測試方法,結(jié)合某型電子稱重儀表RS測試結(jié)果及分析整改,歸納出電子稱重儀表設(shè)計(jì)過程中設(shè)計(jì)注意事項(xiàng)及設(shè)計(jì)技巧,對提高儀表抗干擾能力,順利通過RS測試,取得計(jì)量型式批準(zhǔn)證書,具有一定的參考價(jià)值。

       

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