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      塑料外殼的稱重儀表抗ESD能力

      發(fā)布時間:2021-04-08 17:19:08 |來源:網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載

      塑料作為外殼的稱重儀表很難抑制ESD(靜電放電)干擾.因為塑料(非金屬)沒有屏蔽作用也沒有電流泄放通路。唯一的辦法就是周密的布局(PCIayout),^然I/O□及電纜連接也必須考慮周到.
      任何一個從事于以塑料作為稱重儀表外殼設(shè)計的人都會碰到棘手的EMC(電磁兼容性)問題。如果塑料外殼不制成可導(dǎo)電的話(通過涂上金屬物質(zhì))它就冊不能抵抗間接E$D(IESD)的干擾,也不能為直接ESD(DESD)提供電流泄放通路,更不能為退耦電容、電纜屏蔽層薦遙祺公共參考點。IESD的電流在其周圍產(chǎn)生了一個很強的電磁場并輻射到PCB及線束上構(gòu)成了一個磁場環(huán)路,通常在8kV靜電放電點10cm處形成的電場環(huán)路5V/cm2的峰值電壓。    
      一般情況下,稱重儀表中總有幾車金屬件是直接可以接觸到的或電弧可觸及到的.由于ESD的作用,這些金屬件對地形成了一不分布電容.這是一個難題,筆者認為通過下面幾方面的措旅,可使塑制外殼稱重儀表的抗ESD能力得到很大的提高(例如:對于IEC801-28kV/嚴酷等級)
      a.PCB布局及IC退耦
      b.I/O口及線束連接
      c.電弧可達到區(qū)域的保護
      d.敏感器件保護及選用抗ESD的器件
      PCB布局考慮    
      不要只想到塑料外殼的無屏蔽作用,而忽略了PCB本身怎樣來抵抗ESD的干擾。原則上可釆取盡可能減少環(huán)路區(qū)和避免易受干擾的走線直接暴露而不加任何封閉的接地保護層。
      我們必須考慮:    
      a、沒有接地層的單面板,如不釆取其它手段的話,將不可能抑制ESD干擾。
      b、有接地層或大面積接地塊的單面極。
      •所有空白區(qū)填入接地層.
      •其它無法填入接地層的地線必須至少有3~5mm,并盡量使信號走線靠近地線(層).
      •盡量不要使關(guān)鍵信號線(如:時鐘、復(fù)位線等)沿PCB邊沿行走。
      C、多層板        
      大面積接地層及+VCC層可以很好地抑制ESD的干擾,一個精心設(shè)計的多層板可以使非金屬外殼儀表耐住&~10kVESD的考驗。
      IC的退耦也是一種較經(jīng)濟的提高ESD性能的手段,退耦電容最好能盡量靠近IC(用SMT技術(shù),可以幾乎無間距),VCC退耦電容的設(shè)置必須進行更全面的考慮(相比其本身的退耦作用).10nF陶瓷電容相對于Ins上升時間的ESD脈沖(等效于350MHz的帶寬)其阻抗小于0.05Q,可以說起到了一個很好的退耦作用,但是如果與該電容兩腳相聯(lián)的走線長分別為3mm的話,將使感抗增加,因此,退耦電容引入了比本身更大的電感量。~除了對VCC退耦以外,一些關(guān)鍵的信號線(如果其狀態(tài)隨意變化的話,將使稱重儀表不能可靠工作,如RESET等)也必須進行退耦,一般釆用K)OP或200P的電容.請注意:“Reset"命令可能由一個長的級聯(lián)數(shù)字電路塊中的任意一塊引入.因此對每一個"塊”都需進行合適的退耦。而并不是僅對微處理器的Reset腳退耦。
      I/O口及線束的保護
      詢果設(shè)計者確信其塑料制儀表產(chǎn)品,不經(jīng)過金屬化處理就能滿足RF輻射要求(FCC15B.EN55022等)的話,那么它可能必須為抗ESD干擾付出額外的費用進行金屬化.起碼必須破費進行一定的設(shè)計改進.通常,I/O口及相關(guān)的線束一般是EMI的薄弱點.為此.我們先不考慮金屬外殼作用,而進行以下幾方面的討論.
      •線束屏蔽
      •金屬化連接器
      •退耦電容(共模方式)
      •帶濾波的連接器及其它濾波器
      下面,用ESD電流泄放來表示其作用
      a.良好的PCB接地層
      ESD感應(yīng)電流完全通過了電纜屏蔽層或濾波器的退耦電容而進入信號參考地.因此,
      知果接地層的阻抗很低的話,相對于di/dt來說將不存在嚴重的電壓梯度.
      b.“臟的接地”層
      可能的話,盡量使噪聲密集區(qū)(“臟"地線層)位于PCB邊緣(因所有的線束都在這兒),“臟"接地層與內(nèi)部大面積接地層之間的連線較細(“瓶頸這根連線使"臟”地線層相對于“清潔”地線層呈現(xiàn)岀較高的共模高頻(HF)阻抗,同時,一些雜散耦合電容也為ESD提供了一個電流泄放通路(相對于金屬桌面、ESD測試點等等),此外,這種方法對解決IEC801(對電纜I/O的電脈沖群測試)也很有用.
      C.人為接地層
      在I/O線束的入口處設(shè)置一些人為的至少有50cm2的接地塊(用金屬箔或其它的導(dǎo)電材料),這些接地塊放置在塑制儀表產(chǎn)品的內(nèi)側(cè).其作用是收集“屏蔽”電流和“濾波”電流,(代替a中所說的接地層作用)。并通過其分布電容向接地點泄放.線束屏蔽層最好能與這些接地塊四面相接.但因為實際連接比較困難,所以它們一般被縛到PCB板上金屬連接器或金屬夾頭上,然后通過寬的接地帶、導(dǎo)電的螺柱或彈性夾與這些接地塊相聯(lián).如果是非金屬屏蔽電纜(塑制產(chǎn)品大都是這樣)必須把噪聲在影響PCB以前從導(dǎo)線中清除掉,可以釆用lOOpF到220pF的陶瓷電容進行高頻退耦或用共模的鐵氧體磁環(huán),.最好的組合是“T”形濾波器,即兩個鐵氧體磁環(huán)加上一個陶瓷電容.
      電弧可達到區(qū)域的保護
      盡管ESD似乎對塑制儀表產(chǎn)品構(gòu)成了最大的威脅,但不要忽略某些隱藏的ESD的作用.必須很好仔細地檢査所有電弧可觸及到的金屬部件(即使它們不與任何物相接)。成功的關(guān)鍵是;必須確保沒有直接的電弧可觸及到內(nèi)部的關(guān)鍵部件。這意思是:
      •盡量在產(chǎn)品中采用不會放電的非導(dǎo)電開關(guān)、按鈕、棒、顯示器等,因為它們有足夠的抗電強度和電弧拉伸距離.
      •電路中有源完件、運線或內(nèi)部金屬件,這些部件都是電弧可觸疫的.一般安全間隙是1tnm/kV.
      這些方法不僅適用于象磁頭、晶體管金屬帽、晶振等有源器件。而且同樣也適用于象內(nèi)部卡釘、螺絲等無源零件,如果實際中不可能有這樣間隙的話,彎曲一下該零件以增加間距.
      敏感器件保護及選用抗ESD的器件
      人體模型定義的ESD測試電壓2kV~15kV(空氣放電),峰值電流定義為30A,在60ns的持續(xù)時間里,放電波形在Ins內(nèi)達到峰值,該脈沖包含幾百微焦的總能屋,可能損壞敏感的半導(dǎo)體器件.結(jié)短路、氧化層擊穿或元件金屬層的溶化會導(dǎo)致故障。
      為此,設(shè)計一個可靠的系統(tǒng),需要一些ESD保護,選擇瞬態(tài)保護裝置,保護裝置必須有如下特性:
      a)極快的響應(yīng)時間
      b)能夠處理高峰值ESD電流
      c)能承受ESD的重復(fù)作用而不受破壞
      如:使用瞬態(tài)電壓抑制器(TVS)二極管使得瞬態(tài)電流從敏感率導(dǎo)體器件中分流出來,防止ESD瞬態(tài)電壓破壞器件.
      另一種有效措施,選用具有抗ESD半導(dǎo)體器件,如通訊接口器件容易受ESD損壞,設(shè)計時可采用MAX2O2E集成電路。

      作者:林志鐵

       

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